Long-range structural characterizat

Long-range structural characterization of the CSP sintered ZnO ceramics has been carried out by means of XRD. Possible residual phases or structural modifications of the ZnO lattice in the samples prepared under the CSP conditions have been evaluated. Figure 1a shows the XRD patterns related to samples prepared by CSP with different fractions of NPs, as well as those prepared by the CN method from pure MPs and NPs, for comparison. In all cases, only the wurtzite reflections are identified [21], and no other phases are detected within the detection limit. In addition, no significant variations are found in the diffraction pattern between the dense ceramics obtained by CSP varying the percentage of ZnO NPs and those obtained by the CN technique. However, modifications on the crystallite size are recognized (see Figure 1b) depending on the sintered conditions and the starting powder. For the samples prepared by the CN method, a significant increase of the crystallite size is observed, from circa (ca.) 90 nm and ca. 32 nm for starting MPs and NPs, respectively, to 180 nm for sintered CN micro and 90 nm for sintered CN nano (see Figure 1b). For the sintered CSP ceramics, the crystallite size reaches a maximum value of ca. 143 nm for a NPs percentage of 5-10 wt% (CSP n5 and CSP n10), which is higher than the crystallite size of the starting MPs, but does not reach the value obtained for the CN micro. As the NPs percentage increases in the starting powder, the ceramic crystallite size decreases up to ca. 47 nm for CSP n100, indicating a low crystallite size growth related to the starting ZnO NPs (32 nm).

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CSP烧结ZnO陶瓷的远距离结构表征已通过XRD进行。已经评估了在CSP条件下制备的样品中ZnO晶格的可能残留相或结构修饰。图1a显示了与CSP制备的具有不同比例的NP的样品以及通过CN方法从纯MP和NP制备的样品相关的XRD图谱进行比较。在所有情况下，仅识别纤锌矿反射[21]，并且在检测极限内未检测到其他相位。另外，在通过CSP获得的致密陶瓷改变ZnO NP的百分比与通过CN技术获得的致密陶瓷之间的衍射图案中，没有发现明显的变化。然而，根据烧结条件和起始粉末，可以识别出微晶尺寸的变化（见图1b）。对于通过CN方法制备的样品，观察到的微晶尺寸显着增加，大约在90 nm左右。起始MP和NP分别为32 nm，CN烧结微粉为180 nm，CN烧结纳米粉为90 nm（见图1b）。对于烧结的CSP陶瓷，微晶尺寸达到最大值ca。NPs百分比为5-10 wt％（CSP n5和CSP n10）时为143 nm，该值大于起始MP的微晶尺寸，但未达到CN micro获得的值。随着起始粉末中NPs百分比的增加，陶瓷微晶尺寸减小到约。对于CSP n100，为47 nm，

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CSP烧结锌胶陶瓷的远程结构特征已经通过XRD进行。评估了CSP条件下制备的样品中ZnO晶格的可能残余相位或结构修饰。图 1a 显示了与 CSP 准备的具有不同分数的 N 的样本相关的 XRD 模式，以及 CN 方法从纯议员和 N P 中制备的 XRD 模式，以便进行比较。在所有情况下，仅识别五边角反射 [21]，并且在检测限制内未检测到其他相位。此外，CSP获得的密集陶瓷与CN技术获得的密度陶瓷之间的衍射模式没有显著差异。但是，根据烧结条件和起始粉末，可以识别对晶体尺寸的修改（参见图 1b）。对于CN方法制备的样品，观察到晶体尺寸显著增加，从大约（ca.）90 nm和ca. 32 nm分别用于启动议员和 NP，到 180 nm 用于烧结 CN 微和 90 nm 烧结 CN 纳米（见图 1b）。对于烧结的 CSP 陶瓷，晶体尺寸的最大值为 143 nm，N 百分比为 5-10 wt%（CSP n5 和 CSP n10），高于起始 MP 的晶体大小，但未达到 CN 微值。随着起始粉末中的 NPs 百分比增加，CSP n100 的陶瓷晶体尺寸将降至约 47 nm，表明与起始 ZnO NPs （32 nm）相关的晶体尺寸增长较低。

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利用XRD对CSP烧结ZnO陶瓷进行了长程结构表征。对CSP条件下制备的样品中氧化锌晶格可能存在的残余相或结构变化进行了评价。图1a显示了由CSP制备的具有不同np组分的样品以及由CN法从纯MPs和NPs制备的样品的XRD图谱，以供比较。在所有情况下，仅识别纤锌矿反射[21]，在检测限内未检测到其他相位。此外，CSP制备的致密陶瓷与CN制备的致密陶瓷在不同ZnO纳米粒子含量下的衍射图谱没有明显变化。然而，根据烧结条件和起始粉末，可识别对微晶尺寸的修改（见图1b）。对于用CN方法制备的样品，观察到晶粒尺寸显著增加，从分别用于启动MPs和NPs的约90 nm和约32 nm，到用于烧结CN微米的约180 nm和用于烧结CN纳米的约90 nm（见图1b）。对于烧结的CSP陶瓷，当NPs百分比为5-10 wt%（CSP n5和CSP n10）时，晶粒尺寸达到约143nm的最大值，高于起始MPs的晶粒尺寸，但未达到CN微的晶粒尺寸。随着起始粉末中NPs百分比的增加，CSP n100的陶瓷晶粒尺寸减小到约47nm，表明与起始ZnO NPs（32nm）相关的低晶粒尺寸增长。<br>

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